X線分析-電子顕微鏡室

電界放射型走査電子顕微鏡

電界放射型走査電子顕微鏡

メーカー
日本電子株式会社
型番
JSM-7600F
概要
電界放射型走査電子顕微鏡を用いると、固体試料表面の微細構造を明瞭に観察することができます。電子線は、可視光よりはるかに高い空間分解能をもたらします。まず始めに試料表面に金属あるいはカーボンを蒸着して導電性を持たせます。そこへ電子線を照射すると反跳電子や二次電子が発生するので、それらの強度を測定することにより試料の表面構造を得ることができます。エネルギー分散型X線分析装置(Energy Dispersion X-ray Spectrometry)、反射電子検出器、EBSD検出器(Electron Backscatter Diffraction:電子線後方散乱回折)の搭載により、化学組成分析、組成像・凸凹像の観察、結晶解析が可能です。
仕様
二次電子像分解能 1.0 nm(@ 15 kV)
加速電圧 0.1 kV〜30 kV
試料照射電流 1 pA〜200 nA(@ 15 kV)
試料ホルダ スライドガラス用、ミニコア用、微化石用
機器のある場所
X線分析・電子顕微鏡室

マルチパーパスX線回折装置 (XRD)

マルチパーパスX線回折装置 (XRD)

メーカー
パナリティカル株式会社
型番
X’Pert PRO MPD
概要
岩石を構成する主要鉱物や粘土鉱物を同定するために使用します。
仕様
検出器 X’Celerator(超高速半導体アレイ検出器)
アプリケーション X’Pert Datacollector
測定角(2θ) 5°〜75°
測定試料形態 岩石粉末(およそ0.1 g)
  最大45試料までのサンプルチェンジャーによる連続測定が可能
機器のある場所
X線分析・電子顕微鏡室

波長分散シーケンシャル式蛍光X線分析装置 (XRF)

波長分散シーケンシャル式蛍光X線分析装置 (XRF)

メーカー
パナリティカル株式会社
型番
MagiX PRO
概要
コア試料中の岩石および堆積物の化学組成を知るために使用します。
仕様
分光結晶 Li200, Ge111, PE002, TlAp100coated
検出器 Flow, Xe Sealed, Scint, Duplex
アプリケーション SuperQ Manager
測定試料形態 ガラスビード(試料0.5 g+ホウ酸リチウム5 g)
対象元素 主要10元素(Fe, Mn, Ti, Ca, K, P, Si, Al, Mg, Na)
測定時間 1試料あたり約10分
  最大60試料までのサンプルチェンジャーによる連続測定が可能
機器のある場所
X線分析・電子顕微鏡室
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