X線分析

電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)

電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)

メーカー
日本電子株式会社
型番
JXA-8200
概要
加速した電子線を固体試料表面に照射した時に発生する特性X線を分光計測することにより、電子線が照射されている微小領域の構成元素の同定・検出およびそれらの比率を求めることができます。本装置はSEMの機能も有しています。
仕様

3基のWDS分光器(波長分散型 X 線検出器:Wavelength Dispersive X-ray Spectrometer)とEDS検出器(エネルギー分散型X線検出器:Energy Dispersion X-ray Spectrometry)を搭載

 

加速電圧 0.2〜30 kV(0.1 kVステップ)
照射電流範囲 10-12〜10-5 A
二次電子像分解能 6 nm (@ WD 11mm, 30 kV)
反射電子像 組成像, 凹凸像
分析方法 定量分析, 定性分析, 線分析, 面分析, EDS分析
標準試料 酸化物スタンダード, ミネラルスタンダード, 希土類スタンダード
試料ホルダ OMTHL: 薄片用, LH9: ミニコア用
機器のある場所
分光分析室

マルチパーパスX線回折装置 (XRD)

マルチパーパスX線回折装置 (XRD)

メーカー
パナリティカル株式会社
型番
X’Pert PRO MPD
概要
岩石を構成する主要鉱物や粘土鉱物を同定するために使用します。
仕様
検出器 X’Celerator(超高速半導体アレイ検出器)
アプリケーション X’Pert Datacollector
測定角(2θ) 5°〜75°
測定試料形態 岩石粉末(およそ0.1 g)
  最大45試料までのサンプルチェンジャーによる連続測定が可能
機器のある場所
X線分析・電子顕微鏡室

波長分散シーケンシャル式蛍光X線分析装置 (XRF)

波長分散シーケンシャル式蛍光X線分析装置 (XRF)

メーカー
パナリティカル株式会社
型番
MagiX PRO
概要
コア試料中の岩石および堆積物の化学組成を知るために使用します。
仕様
分光結晶 Li200, Ge111, PE002, TlAp100coated
検出器 Flow, Xe Sealed, Scint, Duplex
アプリケーション SuperQ Manager
測定試料形態 ガラスビード(試料0.5 g+ホウ酸リチウム5 g)
対象元素 主要10元素(Fe, Mn, Ti, Ca, K, P, Si, Al, Mg, Na)
測定時間 1試料あたり約10分
  最大60試料までのサンプルチェンジャーによる連続測定が可能
機器のある場所
X線分析・電子顕微鏡室
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