分光分析

顕微レーザーラマン分光装置

顕微レーザーラマン分光装置

メーカー
ホリバ・ジョバンイボン
型番
T64000
概要
固体/液体試料にレーザーを照射し、放射されるラマン光を観測することにより、物質の化学組成の同定や分子構造の解析を行います。
仕様
光源 アルゴンレーザー(波長: 514.5nm)
顕微鏡 Olympus BX41
CCD Detector 3000
機器のある場所
分光分析室

フーリエ変換赤外分光光度計(赤外顕微鏡付属)

フーリエ変換赤外分光光度計(赤外顕微鏡付属)

メーカー
日本分光株式会社
型番
フーリエ変換赤外分光光度計: FT-IR-6100
赤外顕微鏡: IRT-3000
概要
薄膜試料に赤外線を照射すると試料中の様々な分子の回転あるいは振動が起こります。試料に吸収されたあるいは試料から反射してきた赤外線の時間-強度スペクトルを記録し、そのスペクトルをPC上のフーリエ変換により分光すると波長-強度スペクトルが得られます。様々な分子が持つ化学結合は、それぞれ異なる波長の赤外線に反応するため、得られた波長-強度スペクトルを用いると試料に含まれる物質の定性・定量分析を行うことができます。
仕様
光源 高輝度セラミック光源
光学系 シングルビーム方式
試料室 200×260×185 mm
検出器 DLATGS
測定波数範囲 7800〜350 cm-1
波数正確さ ±0.01 cm-1
分解能 0.5〜16 cm-1
機器のある場所
分光分析室

γ線スペクトル分析装置

γ線スペクトル分析装置

メーカー
PRINCETON GAMMA TECH
型番
System8000
概要
表層堆積物試料から放射されるγ線をエネルギー分光分析することにより得られる鉛210の濃・xから堆積年代を算出できます。
仕様
遮蔽箱 厚さ15 cm鉛
検出器 高純度ゲルマニウム半導体井戸型検出器
試料形態 堆積物試料3〜5 gを量り取り、乾燥後容器に封入したもの
測定に必要な時間 1〜6 日
機器のある場所
分光分析室
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